روش نوین XRF در مطالعات نقوش سنگی تخت جمشید استفاده شد

تخت جمشید جزو اولین آثار تاریخی در ایران است که نقوش سنگی آن به روش طیف‌سنجی فلورسانس اشعه ایکس (XRF) آنالیز شد. مدیر اجرایی مجموعه تخت جمشید، از انجام آزمایشات جدید به روش xrf بر روی نقوش سنگی تخت جمشید خبر داد و گفت: مجموعه تخت جمشید جزء اولین آثار تاریخی در ایران است که از چنین روشی در مطالعات تحلیلی نقوش سنگی بهره‌مند شده است.

مسعود رضایی در این باره افزود: این فصل از مطالعات سنگ که با یک دستگاه پرتابل و قابل حمل انجام شد، به جای انتقال نمونه‌های سنگ به مکان آزمایشگاهی برای تحلیل عنصری کانی‌های سنگ و شناخت طیف و کمیت عناصر، نمونه‌ها در مکان اصلی خود و در مجموعه تخت جمشید بدون کوچک‌ترین آسیبی مورد تحلیل قرار گرفت.

در تخت‌گاه تخت جمشید، کاوشهای باستان‌شناسی انجام شده است، اما آنچه ضرورت دارد مطالعه، بازنگری و مانیتورینگ مرمت‌ها و همچین بررسی وضعیت آسب پذیری نقوش سنگی تخت جمشید در شرایط امروزی است. به همین منظور برنامه مطالعات سنگ با عنوان «از تخت‌گاه تا تخت جمشید» متشکل از هیآت ایرانی و ایتالیایی و با رویکرد حفاظتی و مرمتی، از سال ۸۷ تا کنون و بصورت دوره‌ای در حال اجرا ست.

در بخش دیگری از این گزارش سرپرست تیم ایرانی مطالعات سنگ در تخت جمشید نیز در تبیین آخرین نتایج مطالعات سنگ مجموعه تخت جمشید گفت: تا کنون بیش از ۲۰۰ نمونه آزمایش در تخت جمشید انجام شده، همچنین مواد و مصالح خاص تخت جمشید تشخیص و ساخته شده اما به کار گیری این مواد و طیف مرمت و حفاظت نقوش در مقیاس گسترده‌تر، به نتایج آزمایشات تکمیلی و مواد مرمتی به کار گرفته شده بر می‌گردد.

علیرضا عسگری با اشاره به اینکه اهمیت این دور از مطالعات به دلیل توسعه مرمت و حفاظت از نقوش سنگی تخت جمشید است، افزود: کار آزمایشی تخت جمشید توسط مرمتگران ایرانی و ایتالیایی انجام شده است و وضعیت آسیب پذیری آن در شرایط امروزی مورد تجزیه و تحلیل قرار گرفته و انجام آزمایشات تحلیل عنصری کانی‌های سنگ در این دوره به روش xrf به‌عنوان مکمل مطالعات کانی‌شناسی کاربرد زیادی در بررسی‌های مطالعاتی مورد نظر و حفاظت از آثار دارد، متعاقباً این فصل از کار، کنترل و بازنگری مرمت نقوش را به مرحله تحقیقات نهایی وارد می‌کند.

 عسکری با اشاره به اینکه خود سرپرستی برنامه مطالعات نقوش سنگی تخت جمشید را بر عهده داشته یادآور شد: پی یر فرانچسکو کالیری از دانشگاه بولونیا ایتالیا، به عنوان سرپرست تیم ایتالیایی و نیز متخصصانی در حوزه مرمت، شیمی و فیزیک در این مطالعات پژوهشی- می‌دانی حضور داشتند.وی گفت: این فصل از کاوش در چارچوب برنامه‌های مطالعات و همکاری‌های مشترک هیأت‌های ایرانی و ایتالیایی، پایگاه میراث جهانی پارسه- پاسارگاد و واحدحفاظت و مرمت مجموعه تخت جمشید، در بخش پژوهش‌های می‌دانی انجام شد.

طیف‌سنجی فلورسانس اشعه ایکس (XRF) یک روش آنالیز دستگاهی است که در آن از روش طیف نشری اشعه ایکس. برای تجزیه لایه‌های سطحی استفاده می‌شود. این دستگاه توانایی انجام آنالیز عنصری به‌صورت کیفی و نیمه کمی نمونه‌های معدنی مانند نمونه‌های زمین‌شناسی، کانی‌ها، سنگ‌ها، شیشه، سیمان، سرامیک‌ها، آلیاژهای فلزی و غیره را دارد. برانگیختگی نمونه در اثر تابش پرتو ایکس موجب انتقال الکترونی در لایه‌های مختلف اتم می‌شود که هر انتقال الکترونی همراه با نشر یک خط طیفی پرتو x است. طول موج خطوط طیفی نشر شده مبنای تجزیه کیفی عناصر و شدت پرتو‌ها متناسب با فراوانی یا کمیت عناصر موجود در نمونه است.